Efeito da tensão residual na microdeformação da rede cristalina e no tamanho de cristalito em aço Cr-Si-V jateado por shot peening

Referencia Apresentador Autores
(Instituição)
Resumo
IIId17-001
Rene Ramos Oliveira Oliveira, R.R.(Nuclear and Energy Research Institute); Lima, N.B.(Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, São Paulo(SP), BRAZIL); Xavier, G.L.(Serviço Nacional de Aprendizagem Industrial); de Castro, M.C.(Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares); No presente trabalho foram estudados os efeitos causados pelo tratamento mecânico de shot peening, cujos parâmetros utilizados neste trabalho foram a variação da granalha e o pré tensionamento das amostras aplicados em lâminas utilizadas em feixe de molas automobilísticas de aço de liga cromo silício vanádio (SAE 9254+V).Inicialmente foi realizada a avaliação do perfil de tensão residual, efetuada por difração de raios x pelo método do sen2? ao longo da espessura na região onde a tensão é compressiva. Nos resultados nota-se um efeito anômalo em relação ao perfil característico da distribuição de tensão residual com a perda de compressão nas camadas iniciais em relação à superfície jateada. Pelas micrografias obtidas em microscopia eletrônica de varredura observa-se a região deformada plasticamente e desta forma busca a definir o mecanismo que infere este efeito, analisando o comportamento que ocorre na microestrutura do material. O perfil obtido pela difração de raios x fornece as informações necessárias com o propósito de conjugar os efeitos que a microtensão (microdeformação) influenciam na macrotensão (tensão residual). Esta relação foi comprovada pela sobreposição dos resultados encontrados na distribuição da microdeformação com a tensão residual ao longo da espessura na região plasticamente deformada. Os resultados dos perfis das difrações de raios x mostraram a existência de anisotropia de tensões entre os planos, geradas por defeitos de empilhamento e pela densidade de discordâncias. O método aplicado foi o Williansom-Hall modificado. Somando a isto, foi proporcionado o estudo da distribuição do tamanho médio de cristalito ao longo da espessura no perfil das difrações de raios x e os resultados mostraram que esta distribuição varia de forma inversa a microdeformação. A relação entre o tamanho médio de cristalito e a variação das distâncias interplanares corresponde diretamente a alterações das densidades de discordâncias ocorridas no material que por sua vez estão ligadas às microdeformações da rede cristalina, portanto todos os fatores ligados entre si.
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