ANÁLISES DIFRATOGRAMÉTRICAS DAS ESTRUTURAS CRISTALINAS COM RAIOS-X ALTERNATIVO

Referencia Apresentador Autores
(Instituição)
Resumo
Vd17-001
Sérgio Lucas de Freitas de Freitas, S.L.(INSTITUTO FEDERAL DE EDUCAÇÃO CIÊNCIA E TECNOLOGIA DO MARANHÃO); A experimentação no curso de química é aliada no processo de ensino aprendizagem, por motivar os alunos e facilitar a compreensão dos conteúdos. Porém muitos discentes apresentam um grau de dificuldade em contextualizar certas disciplinas do curso, por isso faz se necessário uma abordagem mais contextualizada nos conteúdos das disciplinas, pois para a formação docente é preciso despertar primeiramente nos discentes a importância da didática na formação profissional. Na experimentação com o silício, notou-se uma simetria de rotação em 90 graus assim como invariância sob reflexões especulares. A indexação dos máximos de difração consiste em associa-los em uma família de planos. Isso mostrou que a simetria do cristal está relacionada com a comutação dos índices hkl entre os pontos correspondentes. A partir da comparação entre o lauegrama experimental e obtido a partir do programa, percebeu-se a ocorrência de máximos não registrados no filme. Pois esses máximos são de intensidade muito menor com relação aos intensos, e certamente seriam evidenciados fazendo uma exposição da amostra aos raios-X mais duradoura. A experimentação foi de grande motivação, pois despertou o interesse dos discentes na disciplina ajudando na melhor aprendizagem do conteúdo. A finalidade deste trabalho foi relacionar para fins didáticos a técnica de difração de raios-X por procedimentos experimentais na obtenção de difratogramas do tipo Laue, usando uma fonte de raios-X alternativo.
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